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ZETA電位·粒徑·分子量測系統 ELSZ-2000ZS

特點使用了最新型高感度APD，感度提升及縮短測量時間通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性相轉移溫度可測量0～90℃大范圍內的溫度追加了大范圍的分子量測量及解析功能...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的最高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學領域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。...
多樣品納米粒子徑測試系統·nanoSAQLA

● nanoSAQLA是一臺通過動態光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學系統，實現了實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續測量”的新產品。...
多樣品nano粒子徑測量系統 nanoSAQLA（帶自動取樣器 AS50）

產品信息特點 nanoSAQLA 的特點 1個單元可輕松連續測量5個樣品實現了在沒有自動進樣器的情況下難以實現的多個樣品的連續測量，也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。對應瘦...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測系統 ELSZ-2000ZS

產品信息特點使用了最新型高感度APD，感度提升及縮短測量時間通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性相轉移溫度可測量0～90℃大范圍內的溫度追加了大范圍的分子量測量...
ZETA電位 · 粒徑測試系統·ELSZneoSE

本產品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。根據用途，可以根據需要定制任意數量的必要功能。...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的最高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學領域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的最高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學領域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。...
ZETA電位 · 粒徑測試系統·ELSEneoSE

本產品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。根據用途，可以根據需要定制任意數量的必要功能等...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS

●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置。●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。對電滲透流進行實測，可通過最小容量130μL 微量可拋式樣品池實現...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測系統 ELSZ-2000Z

產品特點：使用了最新型高感度APD，感度提升及縮短測量時間通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性相轉移溫度可測量0～90℃大范圍內的溫度追加了大范圍的分子量測量等...

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高速LED光學特性儀 LE series

產品信息特點與產線的控制信號同步通過光纖的自由的測試系統實現最短2ms～的光譜測量（LE-5400）同以往的產品相比，測量、演算、評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型測量...
光波動場三次元顯微鏡

MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
分光配光測量系統 GP series

產品信息特殊長度支持長達 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量還支持有機EL和大型顯示器的光分布測量可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分布，并通過球帶系數法獲得總...
MCPD series 嵌入式膜厚測試型

本公司的MCPD series，由于采用柔軟纖維的事，從In-Situ到內聯各種各樣的地方和用途的編入成為可能。測量原理為分光干涉方式，在實現高測量再現性的同時，還支持多層厚度測量。通過采用獨自算法，可以高速實時監控。...
OPTM series 嵌入型

利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區域測量等膜厚信息。...
相位差測量裝置 RETS-100nx New

產品信息特點采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備測量項目...
顯微分光膜厚儀 OPTM series

測量項目：[膜厚、折射率n、消光系數k]. 測量原理：[分光干涉法]. 測量對象：[光刻膠、SiO2、Si3N4等]. 測量范圍：[1nm~92μm]....
膜厚量測儀 FE-300

產品信息特長薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析高性能的低價光學薄膜量測儀藉由絕對反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高端機種90%的強大功能無復雜設定，操作簡單，短時...
嵌入式膜厚檢測儀

產品信息特點采用分光干涉法搭載高精度FFT膜厚解析系統（專利第4834847號）使用光學光纖，可靈活構筑測量系統可嵌入至各種制造設備。實時測量膜厚可對應遠程操作、多點測量...
線掃描膜厚儀【在線型】

采用線掃描方式檢測整面薄膜硬件軟件均為創新設計作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援實現高精度測量（已獲取專利）實現高速測量不受偏差影響可對應寬幅樣...
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3

即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環境中) 產品特色非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測采用分光干涉法實現高度檢測再現性可進行高速...
橢偏儀 FE-5000/5000S

產品信息特點可在紫外和可見（250至800nm）波長區域中測量橢圓參數可分析納米級多層薄膜的厚度可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜通過可變反射角測量，可詳細分析...
線掃描膜厚儀【離線型】

產品信息特點全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測硬件軟件均為創新設計作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援實現高精度測量（已取得專利）實現高速測量（500萬點...
小角激光散射儀 PP-1000

PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進行原位檢測，實時解析。與SAXS和SANS的裝置相比，檢測范圍更廣。利用偏光Hv散射測量可以進行光學各向異性的評價，解析結晶性薄膜的球晶半徑，偏光Vv散射測量可以進行聚合物混合的相關距離的分析。...
高速相位差測量裝置 RE-200

產品信息特點可測從0nm開始的低（殘留）相位差光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當于世界最快速的0.1秒以下來處理）無驅動部，重復再現性高設置的測量項目少，測量簡單...
MCPD series 在線評估測試系統

本公司的MCPD series在線膠卷評價系統，由于光學式非接觸·非破壞的膜厚，濃度，顏色等的檢查可能?？蓽y定膜厚范圍為65nm～92μm和薄膜到厚膜都對應。（折射率1.5時）測量原理為分光干涉方式，在實現高測量再現性的同時，還支持多層厚度測量。由于采用了獨自算法，可以高速實時監控，所以作為在線膠片監控，我們提出了最適合的系統。...
線掃描膜厚儀【在線型】

產品信息特點采用線掃描方式檢測整面薄膜硬件軟件均為創新設計作為專業膜厚測定廠商，提供多種支援實現高精度測量（已獲取專利）實現高速測量不受偏差影響可對應寬幅樣...
多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800

產品信息特長應用廣泛的測量儀。以最高機型MCPD-9800為首，一共有3種對應12波長領域的測量儀。我們可以根據客戶的需求和用途提出最適合的方案。不同評價方法對應不同設備 ◎...
彩色濾光片、彩色光刻膠測量裝置 LCF SERIES

產品信息特點以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置可用于彩色濾光片的光學特性或玻璃基板...
Load Port對應膜厚測量系統 GS-300

產品信息特點支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口實現嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊支持半導體工藝的高吞吐量要求支持槽口對齊功能小尺寸規格高精度自動校準單元自動...
液晶層間隙量測設備 RETS series

產品信息特點采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備測量項目...
嵌入式膜厚檢測儀

產品信息特點采用分光干涉法搭載高精度FFT膜厚解析系統（專利第4834847號）使用光學光纖，可靈活構筑測量系統可嵌入至各種制造設備。實時測量膜厚可對應遠程操作、多點測量...
顯微分光膜厚儀 OPTM series

●非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ●OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試，并有獨家專利可針對透明基板去除背面反射，從而達到“真實反射率、膜厚”測試的目的。此外，軟件操作簡單、使用方便且簡化了復雜的建模流程。...
液晶層間隙量測設備 RETS series

產品信息特點采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備測量項目...
OPTM series 嵌入型

利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區域測量等膜厚信息。...
膜厚測量系統 FE-3700/5700

產品信息特殊長度可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數。除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。用法 LCD ITO...
彩色濾光片、彩色光刻膠測量裝置 LCF SERIES

產品信息特點以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置可用于彩色濾光片的光學特性或玻璃基板...
用于透過率/吸光度測量的多通道光譜儀MCPD series

是從紫外到近紅外領域對應的多功能多通道分光檢測器。最短5ms即可進行光譜測量。標準裝置的光纖可支持各種測量系統，而無需確定樣品種類。以顯微分光、光源發光、透射、反射測定為首，通過與軟件的組合，也可以對應物體顏色評價、膜厚測定等。...
高靈敏度光譜儀 HS-1000

特點：采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量，對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm）獨特的光學系統降低了...
總光譜光通量測量系統 HM/FM series

產品信息特點可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準采用新的探測器，可以進行廣動態范圍的測量測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從250毫...
紫外分光輻射照度測量系統 New

產品信息特征該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍帶軟件的樣品照明電源...
紫外分光全光譜光通量測量系統

產品信息特征具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍具有紫外線自吸收校正的高精度測量配備溫度控制單元，可從-110C進行溫度控制涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍電源、溫控單元、...
紫外分光配光測量系統

產品信息特征通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量從配光上評估紫外光的最大發光強度、光束開度、光束光通量涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍支持從 LED 芯片到模塊和應用...
分光輻射照度測量系統

產品信息特殊長度該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍...
高速LED光學特性儀 LE series

產品信息特點與產線的控制信號同步通過光纖的自由的測試系統實現最短2ms～的光譜測量（LE-5400）同以往的產品相比，測量?演算?評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型測量..
高感度分光輻射亮度計 HS-1000

特點：采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量，對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm）獨特的光學系統降低了...
量子效率測量系統 QE-2100

產品信息特點測量精度高可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率）可去除再激勵熒光發光采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系采用了低迷光多通道分光檢出器，大大減少了...
高靈敏度近紅外量子效率測量系統 QE-5000 New

產品信息特殊長度可以測量0.01%或更低的單線態氧的產生量子產率。單線態氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察可在用于生物應用等的水性溶劑中測量。傳統方法難以在輕溶劑中進行測量...

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DLS測量手法及技巧介紹（2024/12/18）

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晶圓檢測設備及檢測方法

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如何使用納米粒度儀實現分子量測試

動態光散射的納米科技應用——詳解Zeta電位的原理、測量及影響因素

大塚電子(蘇州)有限公司

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