大塚電子（蘇州）有限公司將參加2024年CIOE中國光博會，展出位置：3號館3D13，將展出的產品有：MINUK、OPTM、ELSZ  neo、Smart膜厚計，真空腔體中在線膜厚檢測設備，歡迎您前來免費參觀。

產品介紹:

【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的最高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學領域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。

產品介紹:

測量項目：[膜厚、折射率n、消光系數k]. 測量原理：[分光干涉法]. 測量對象：[光刻膠、SiO2、Si3N4等]. 測量范圍：[1nm~92μm]

Smart膜厚計

高精度可攜帶膜厚計

“想測量的‘當場’不能馬上測量”

“因人而異的測量結果”

“測量精度差”

測量膜厚的時候，沒有這樣的經驗嗎？智能膜厚計具有以下特征，可以解決大家的困難。

可以帶去現場的不利條件類型

因為很簡單所以誰都能用

即使是不利類型也能進行高精度的測定

有形狀的樣品也可以用非破壞來測量

真空腔體中在線膜厚檢測設備

在真空環境下也可以在多點進行反射、透射光譜測定

通過使用各種法蘭對應的耐真空纖維，可以在高真空下測量反射、透射光譜。另外，膜厚運算不易受到基膜的上下移動的影響，并且采用精度良好的薄膜測量大冢電子獨自的算法，可以作為實時監視器使用。