導航
「作為分光測量的領(lǐng)軍者，我們引以為豪的是不斷進取，從光源、照明、材料膜厚測量，一直發(fā)展到探索新的領(lǐng)域。
在1980年代初期，自動記錄光度計作為分光測量中不可或缺的主流，采用的是通過信號條移動光柵的機制。當時擁有獨特產(chǎn)品特長的大塚電子公司，采用了同時期最先進技術(shù)——光電二極管陣列作為傳感器，并在光學系統(tǒng)中使用光纖，通過計算機控制，創(chuàng)造出了具有劃時代意義的分光分析裝置「多通道分光光譜儀(MCPD)」，給科學測量設(shè)備行業(yè)注入了新風。
由于MCPD是一個全新概念的檢測器，因此剛開始時被限制在大學和先進的研究部門中使用。
但是，我們引入了數(shù)字技術(shù)來替代傳統(tǒng)的模擬技術(shù)，進行了軟件開發(fā)和應(yīng)用開發(fā)，以滿足客戶的需求，并建立了相應(yīng)技術(shù)。不久之后，新概念的價值得到了理解，并被采納于電子及其他許多行業(yè)中，我們提供的系統(tǒng)可以覆蓋從研究開發(fā)、生產(chǎn)線、質(zhì)量管理等廣泛領(lǐng)域。現(xiàn)在，MCPD是大塚電子光測量設(shè)備的核心。
以MCPD為基礎(chǔ)開發(fā)的產(chǎn)品中，例如膜厚測量設(shè)備，可在處理半導體晶圓上生成的膜的同時進行測量，以及在生產(chǎn)線上測量食品包裝用薄膜的膜厚的設(shè)備等。在其他領(lǐng)域中，還有評估光源本身的如LED和車前燈等裝置的設(shè)備，以及液晶電視和平板電腦用零部件的評估設(shè)備，以及用于顯示器生產(chǎn)線的評估設(shè)備等。
分光測量業(yè)務(wù)將持續(xù)不斷地向小型檢測器添加不同的新技術(shù)，不斷開發(fā)高精度、高靈敏度、易于使用的設(shè)備，以滿足各種領(lǐng)域的需求。
「基于光散射技術(shù)不斷發(fā)展，拓展未來的新材料、納米技術(shù)領(lǐng)域等廣泛應(yīng)用」
利用光散射作為新材料分析的核心技術(shù)，并將其應(yīng)用于納米技術(shù)領(lǐng)域的物性測量。以粒子大小、電位和分子量的測量方法作為基準，拓展新材料、生命科學、高分子化學，以及半導體和醫(yī)藥等領(lǐng)域的應(yīng)用。
大塚電子從其創(chuàng)立之初就以光散射技術(shù)和分離技術(shù)為基礎(chǔ)，這些技術(shù)不僅是公司的技術(shù)根源，也是新材料分析的核心技術(shù)并以這些技術(shù)開發(fā)、生產(chǎn)和銷售獨特的產(chǎn)品。利用光散射技術(shù)的產(chǎn)品是大塚電子歷史最悠久的產(chǎn)品系列之一。在許多大學、官方機構(gòu)和企業(yè)中，做為功能材料和新材料物性評估測量設(shè)備被高度評價。在接受各方面的建議和幫助下，不斷開發(fā)絕對分子量測定、微粒子粒徑測定和電位測定設(shè)備，并在各應(yīng)用領(lǐng)域進行改進。同時，從基礎(chǔ)研究到質(zhì)量控制的用途不斷擴大，在這一領(lǐng)域已經(jīng)成為日本唯一的國產(chǎn)制造商，獲得了極高的信任。
以納米粒子為代表的10億分之一米規(guī)模的新材料開發(fā)發(fā)展迅速。大塚電子的主要產(chǎn)品是利用“動態(tài)光散射法”技術(shù)來測量溶液中的納米粒子。我們可以自豪地說，在業(yè)界開始將“動態(tài)光散射法”應(yīng)用于納米粒子分析時，我們是最早的之一。隨著納米技術(shù)和納米材料市場的迅速擴大，利用光散射產(chǎn)品進行納米粒子的物性評估的必要性不斷增加。例如，通過將材料納米化來發(fā)現(xiàn)新功能，使最終產(chǎn)品具有更高的質(zhì)量等，有各種可能性。納米技術(shù)、生命科學、高分子化學、新材料、食品、化妝品、環(huán)境，以及半導體和醫(yī)藥領(lǐng)域的技術(shù)不斷發(fā)展。我們將繼續(xù)提供分析手段和可靠性高的產(chǎn)品，以滿足從研發(fā)到質(zhì)量管理各方面的需求。
