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應(yīng)用領(lǐng)域：光學(xué)膜、接著劑、硬化涂層、半導(dǎo)體光刻膠、食品用薄膜、醫(yī)療用薄膜等。

● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對(duì)焦、測(cè)量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測(cè)試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對(duì)反射率 的新型高精度、高性?xún)r(jià)比的分光膜厚儀。

大塚電子MINUK可評(píng)價(jià)nｍ級(jí)的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時(shí)獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測(cè)量。且無(wú)需對(duì)焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測(cè)量位置。

大塚電子（蘇州）有限公司產(chǎn)品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等

VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測(cè)量、LCoS液晶盒盒厚檢測(cè)Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評(píng)估、和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)

使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測(cè)量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。

大塚電子的 Zeta 電位測(cè)量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測(cè)量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測(cè)量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過(guò)這樣的測(cè)量可以評(píng)價(jià)平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會(huì)將介紹其應(yīng)用。

無(wú)法測(cè)試出預(yù)想的結(jié)果，測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)這么大？是設(shè)置環(huán)境的不當(dāng)？運(yùn)用方法不對(duì)？ 還是測(cè)試條件設(shè)置有誤？如果您也有同樣的困惑，請(qǐng)記得務(wù)必參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會(huì)。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷(xiāo)售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測(cè)厚儀,非接觸薄膜測(cè)厚儀,濕膜測(cè)厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測(cè)定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測(cè)定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...

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平板顯示器、包裝用薄膜、光學(xué)薄膜等領(lǐng)域出現(xiàn)了各種各樣的產(chǎn)品，特別是在這些產(chǎn)品中，光學(xué)特性成為最重要的特性之一.推薦大塚電子-Inline分光計(jì)測(cè)儀器。...

大塚電子（蘇州）有限公司將參加2022年CIOE中國(guó)光博會(huì)，展出位置：13號(hào)館13E21，將展出的產(chǎn)品有：OPTM 顯微分光膜厚儀、ELSZ 粒徑、界達(dá)電位測(cè)試儀、MCPD，歡迎您前來(lái)免費(fèi)參觀。...

在各種高分子領(lǐng)域中，卷對(duì)卷的膜層涂布是其中一段生產(chǎn)過(guò)程，在監(jiān)控膜厚時(shí)為了保持商品的完整性，無(wú)法以接觸式方法量測(cè)。...

展期：2021年9月9~11日 展館：深圳國(guó)際會(huì)展中心（新館） 地址：深圳市寶安區(qū)展城路1號(hào) 展位號(hào)：8號(hào)館8A01C（3號(hào)門(mén)） 納米材料行業(yè)解決方案 納米材料包括：納米碳納米材料（石墨烯、富...