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4/24
膜厚設備介紹（smart膜厚儀）
應用領域：光學膜、接著劑、硬化涂層、半導體光刻膠、食品用薄膜、醫療用薄膜等。
查看詳情
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對于半導體前工序的多種需求 大塚膜厚儀的特點和作用
● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數k、絕對反射率 的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。
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2/26
光波動場三次元顯微鏡MINUK的介紹
大塚電子MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
查看詳情
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2025-04
膜厚設備介紹（smart膜厚儀）
應用領域：光學膜、接著劑、硬化涂層、半導體光刻膠、食品用薄膜、醫療用薄膜等。
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2025-03
對于半導體前工序的多種需求 大塚膜厚儀的特點和作用
● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數k、絕對反射率 的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。
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2025-02
光波動場三次元顯微鏡MINUK的介紹
大塚電子MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
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2025-02
晶圓和漿料靜電相互作用的評估與半導體工藝技術簡介
大塚電子（蘇州）有限公司產品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等
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2025-01
AR/VR/MR/XR行業測量方案介紹
VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測量、LCoS液晶盒盒厚檢測Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評估、和上述關聯的AR/VR/MR/XR終端研發
09
2024-12
DLS測量手法及技巧介紹（2024/12/18）
使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測量設備或對此有興趣的人。
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2024-10
平板狀·薄膜狀樣品的ZETA 電位測量與應用的介紹（2024/11/27）
大塚電子的 Zeta 電位測量系統“ELSZ 系列”不僅可以測量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過這樣的測量可以評價平板狀樣品的表面改質狀態以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會將介紹其應用。
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2024-09
納米粒度儀的基本操作&故障排除-蘇州線上講習會（2024-10-23）
無法測試出預想的結果，測試數據波動這么大？是設置環境的不當？運用方法不對？ 還是測試條件設置有誤？如果您也有同樣的困惑，請記得務必參加我司的網絡學習會。
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2024-05
晶圓和研磨液靜電相互作用的評價方法和半導體制程技術介紹（2024-07-24）
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...
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2024-04
偏光片相位差·吸收軸測試原理及應用案例-蘇州線上講習會（2024-5-22）
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...
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2024-04
納米粒度和ZETA電位設備在生物醫藥行業的應用(2024-04-24 )
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...
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2024-01
膜厚度測量(反射分光)的原理和應用介紹-2024-2-28
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...
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2023-11
RETS測試原理&應用-蘇州線上講習會（2023-12-6）
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...
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2023-11
平板ZETA電位測量-蘇州線上講習會（2023-11-22）
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...
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2023-08
9月 WEBINAR(網絡研討會)-大塚電子網絡研討會-膜厚測量應用
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2023-08
9月 Webinar(網絡研討會)-大塚電子網絡研討會-粒徑應用篇
大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置.其產品包括：納米粒度儀,薄膜厚度測厚儀,非接觸薄膜測厚儀,濕膜測厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測定儀廠家,點擊了解價格和報價...
07
2022-09
Inline分光計測儀器 -為提升品質做出貢獻
平板顯示器、包裝用薄膜、光學薄膜等領域出現了各種各樣的產品，特別是在這些產品中，光學特性成為最重要的特性之一.推薦大塚電子-Inline分光計測儀器。...
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2022-08
大塚電子（蘇州）有限公司將于2022年9月7-9日參與CIOE中國光博會
大塚電子（蘇州）有限公司將參加2022年CIOE中國光博會，展出位置：13號館13E21，將展出的產品有：OPTM 顯微分光膜厚儀、ELSZ 粒徑、界達電位測試儀、MCPD，歡迎您前來免費參觀。...
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2021-09
卷對卷(Roll to Roll)高速在線膜厚監控
在各種高分子領域中，卷對卷的膜層涂布是其中一段生產過程，在監控膜厚時為了保持商品的完整性，無法以接觸式方法量測。...
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2021-08
大塚電子即將亮相深圳國際納米材料及技術展覽會
展期：2021年9月9~11日 展館：深圳國際會展中心（新館） 地址：深圳市寶安區展城路1號 展位號：8號館8A01C（3號門） 納米材料行業解決方案 納米材料包括：納米碳納米材料（石墨烯、富...
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